點(diǎn)接觸法的優(yōu)點(diǎn)在于測(cè)量因子獲取方便，對(duì)植物沒(méi)有破壞；缺點(diǎn)是樹(shù)群特定性以及依賴樹(shù)尺寸、冠層結(jié)構(gòu)、樹(shù)群密度、季節(jié)氣候等，采樣數(shù)足夠大時(shí)才能置信，且對(duì)較高的冠層和森林實(shí)施比較困難。Bonhomme等采用該方法對(duì)小作物測(cè)量獲得較好結(jié)果。Wilson研究表明，當(dāng)點(diǎn)樣方傾角為32．5°時(shí)，測(cè)量的LAI值較準(zhǔn)。任海等對(duì)鼎湖山森林群落測(cè)量，發(fā)現(xiàn)與分層收割直接測(cè)量法相比的zui大測(cè)量誤差為33．1%。而使用葉面積測(cè)量?jī)x進(jìn)行測(cè)定則是可以更加快速準(zhǔn)確的測(cè)定植物的葉面積大小。
使用消光系數(shù)法測(cè)量的LAI往往比直接測(cè)量的小，并且葉片的聚集效應(yīng)越強(qiáng)，差異越大。近年來(lái)與葉面積指數(shù)相關(guān)的測(cè)量?jī)x器葉面積掃描儀應(yīng)運(yùn)而生，主要有葉面積檢測(cè)儀等。按照測(cè)量原理，這些儀器分為兩類(lèi)，一類(lèi)是基于輻射測(cè)量的方法；另一類(lèi)是基于圖像測(cè)量的方法。基于輻射測(cè)量方法是通過(guò)測(cè)定輻射透過(guò)率來(lái)計(jì)算葉面積指數(shù)的。其基本原理為入射到冠層頂部的太陽(yáng)輻射（稱(chēng)為入射輻射）被植被葉片吸收、反射后，到達(dá)底部時(shí)（稱(chēng)為透射輻射）會(huì)產(chǎn)生衰減，衰減的速率與葉面積指數(shù)、冠層結(jié)構(gòu)有定量關(guān)系，通過(guò)這一關(guān)系反推LAI。葉面積測(cè)定儀http://www.agr17.com.cn/
