梅特勒XPE205分析天平
梅特勒XPE205 分析天平提供出色的分析稱量性能，并提供至高稱量安全性、*稱量效率且易于合規。 梅特勒 XPE205 分析天平重復性誤差小，因此提供zui低的zui小稱量值。質量管理特征，例如創新的狀態指示燈和獲得的 StaticDetect 技術，可免除您在稱量方面的擔憂并獲得值得信賴的結果。憑借各種附件和多個連接選項，梅特勒 XPE205分析天平可滿足您日益增長的需求。 您可在今后的許多年中實現豐富的稱量應用。 瑞士設計與制造，出色的質量值得您信賴。
梅特勒XPE205分析天平提供以下智能稱量功能：
• 包括狀態指示燈在內的新型彩色顯示屏，具有警告功能
• 獲得的 StaticDetect 功能
• 新的靜電消除技術
• TestManager™ 用于輕松的日常測試
• 性能更出色的網格秤盤
• LabX® 軟件用于當前在屏幕上提供定制的工作流程指南
梅特勒XPE205分析天平技術規格
處理能力zui高為 520g，可讀性為 0.01mg/0.1mg
*性能
USP41 的zui小重量可精確到 14 mg
無需觸摸操作
稱量，去皮，自動開關門 – 減少污染
無縫過程
RFID 選項；LabX：自動數據處理，SOP 指南
*的清潔流程
快速拆除稱量室，可在洗碗機中安全清洗
天平管理應用程序
StatusLight™：天平水平，測試已完成，可隨時稱量
靜電解決方案
自動靜電檢測，緊湊式離子發生器XP504DR 分析天平
梅特勒 XPE205 分析天平 技術參數
產品 | 量程 | 可讀性 | zui小稱量值 (USP)，典型值 | 重復性 | 線性誤差（典型值）± |
| XPE105分析天平 | 120.0 g | 0.01 mg | 14.0 mg | 0.015 mg | 0.1 mg |
XPE204 | 220.0 g | 0.1 mg | 80.0 mg | 0.05 mg | 0.2 mg |
XPE205 | 220.0 g | 0.01 mg | 14.0 mg | 0.015 mg | 0.1 mg |
