對于液相介質中納米顆粒的粒徑分布，一般通過對一定區域中納米顆粒的不定向布朗運動速率的測量來表征，動態光散射技術被用于此時的布朗運動速率評價。

顆粒越小，顆粒在介質中的布朗運動速率越快，儀器監測的區域中顆粒散射光光強的漲落變化也越快。然而，當顆粒大至微米級后，顆粒的布朗運動速率顯著降低，同時重力導致的顆粒沉降和容器中介質溫度梯度引起的顆粒對流運動等均變得無法忽視，限制了該粒徑測試方法的上限。

基于以上原因，動態光散射的納米粒度儀適宜測試零點幾個納米至幾個微米的顆粒。納米材料的粒徑分布往往直接決定了其材料活性，分散性，易用性，穩定性，制劑各配方的添加量等。

納米顆粒大多有較活潑的界面化學特性，其在介質中運動的滑動平面所帶的電位被稱為Zeta電位。

當在樣品上加載電場后，帶電顆粒被驅動做定向的電泳運動，運動速度與其Zeta電位的高低和正負有關。納米電位儀正是利用電泳光散射信號來分析電場中帶電顆粒的電泳運動速度，進而表征顆粒的Zeta電位。通常Zeta電位的絕對值越高，體系內顆粒互相排斥，更傾向于穩定的分散。由于大顆粒帶電更多，電泳光散射方法適合測量2nm-100um范圍內的顆粒Zeta電位。

通常高品質的納米和Zeta電位分析儀還能分析顆粒的電位分布，對于顆粒的改性，修飾，活化或裝配的表面一致性，制劑的穩定性等進行評價，從而提高工藝水平和產品質量。

▲ 歐美克NS-90Z Plus 納米粒度分析儀

（點擊圖片查看儀器詳情）

NS-90Z Plus升級的光學電子平臺，信噪比比前一代得到了提高，更低的噪音水平和改進的分析算法使得納米粒徑測試的靈敏度和分辨力得到了提高，例如可以區分差異更小的納米材料，可以更準確識別樣品中不同尺寸組分及其含量，對散射光信號更低的樣品的允許測試濃度更寬等。

▲ NS-90Z Plus測試：60和200nm聚苯乙烯標樣混合

▲ NS-90Z Plus測試：10μm 聚苯乙烯微球標樣

另一個反應大顆粒測量真實性水平提升的案例是NS-90Z Plus對陶瓷漿料少量的微米大顆粒雜質的測試分析。和許多工業應用一樣，納米陶瓷漿料中可能含有的少量微米級雜質對下游工藝和應用是有害的，也是企業希望通過分析儀器進行管控的重要目標。在這個案例中，NS-90Z型號的儀器在測試中一直無法反映出來樣品中存有的如下圖在電鏡中可以找到的極少量微米級大顆粒。