怎樣測試晶閘管斷態(tài)電壓臨界上升率dv/dt的參數(shù)

來源：北京中慧天誠科技有限公司 2025年08月27日 09:24

1.本儀器是晶閘管斷態(tài)電壓臨界上升率dv/dt參數(shù)的測試設(shè)備。適用于交流固態(tài)繼電器、晶閘管、雙向可控硅以及可控硅型光電耦合器的dv/dt參數(shù)測試。

2.本測試儀采用單片機(jī)控制，對(duì)測試條件及測試數(shù)據(jù)進(jìn)行運(yùn)算；使得測試結(jié)果讀出。

3.單片機(jī)的數(shù)據(jù)處理功能，降低了電路分布參數(shù)對(duì)測量結(jié)果的影響。

4.由于該儀器的時(shí)間常數(shù)調(diào)整范圍大、檔位密集，對(duì)測試電壓、時(shí)間常數(shù)和測量結(jié)果進(jìn)行數(shù)字顯示。

5.其檢測原理是按JB/T7626的方法。是固態(tài)繼電器、電力半導(dǎo)體晶閘管生產(chǎn)廠家和使用單位常用的檢測設(shè)備。

規(guī)格參數(shù)：

測試輸出電壓：2kV±5%

電壓測量誤差：±（讀數(shù)×2%+1）V

時(shí)間常數(shù)調(diào)整范圍：0.25-28μS

斷態(tài)電壓臨界上升率dv/dt測量范圍：0-4000V/μS

工作電源：AC 220V±10% 50Hz

工作溫度：0-40℃

功率范圍：小于150VA

晶閘管dv|dt測試儀

型號(hào)：DATA-206

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