電子產品冷熱沖擊試驗箱溫度變化類試驗項目有眾多名稱：溫度變化、溫度循環、溫度交變、快速溫變、溫度沖擊、冷熱沖擊、溫度梯度、分級溫度等名稱。且不同體系的標準中應用的試驗方法是不同的，如何區分這些試驗項目，如何選擇試驗項目，這需要對各類型試驗的來源以及其區別進行分析。
本文針對的試驗項目是溫度變化類的，對于濕熱類，溫濕度循環等試驗項目后續再以專題敘述。
電子產品冷熱沖擊試驗箱來源：各類標準中的溫度變化試驗均來源于IEC60068-2-14試驗方法N：溫度變化中的Nb。在特定溫度變率之溫度變化試驗。
電子產品冷熱沖擊試驗箱定義：
   電子產品冷熱沖擊試驗箱為設置一定的溫度變化速率進行高溫與低溫之間的轉變。故在實際應用中有兩類：一類為慢速的溫度變化試驗，其溫度變化速率<3℃/min(一般各標準經常選擇參數為1℃/min)，也既一般應用中的溫度變化、溫度循環、溫度交變試驗(此三類為一種試驗)；另一類為快速的溫度變化試驗，其溫度變化速率≥3℃/min(一般各標準經常選擇參數為3℃/min、4℃/min、5℃/min、7℃/min、10℃/min)，也既一般應用中的快速溫變試驗。溫度變化速率越快，考核越嚴酷。
電子產品冷熱沖擊試驗箱目的及應用范圍：
   電子產品冷熱沖擊試驗箱適用于組件、裝備或其它產品。為產品模擬帶電工作時隨溫度的變化，如在系統/組件工作時快速改變周圍溫度。如果系統/組件處在熱浸透溫度(例如安裝在發動機上的系統/組件)，高溫階段附加的短暫溫度峰值要確保產品在這期間的基本功能。為避免系統/組件內的電熱擴散抑制系統/組件達到低溫的效果，故在降溫階段將產品關閉。失效模式為溫度變化引起的電氣故障。
注：電子產品冷熱沖擊試驗箱不是壽命試驗。
電子產品冷熱沖擊試驗箱溫度變化試驗：
   電子產品冷熱沖擊試驗箱各類標準中建議采用ISO16750-45.3.1溫度變化試驗，具體試驗程序應用于非發動機艙產品，應用于發動機艙中零部件，因為其具有發動機熄火后的余熱考核，故在溫度變化中加入了極限高溫貯存的考核。
   電子產品冷熱沖擊試驗箱工程師在制定標準，執行標準時對于溫度變化類的試驗有很多不同的見解，且此類試驗名稱過多，導致實際應用中出現了一些不恰當的使用方法。本文特對溫度變化類試驗進行解讀，一方面對各類試驗項目進行分析，另一方面推薦使用合適的標準項目，以供各工程師參考使用。