測(cè)厚儀（thickness gauge）是用來(lái)測(cè)量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。這類(lèi)儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計(jì)；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計(jì)；有利用渦流原理的電渦流厚度計(jì)；還有利用機(jī)械接觸式測(cè)量原理的測(cè)厚儀等。

原理分類(lèi)

測(cè)厚儀按照測(cè)量的方式不同，可大致分為：

1、接觸式測(cè)厚儀

接觸面積大小劃分：

點(diǎn)接觸式測(cè)厚儀

面接觸時(shí)測(cè)厚儀

2、非接觸式測(cè)厚儀

非接觸式測(cè)厚儀根據(jù)其測(cè)試原理不同，又可分為以下幾種：

激光測(cè)厚儀

超聲波測(cè)厚儀

涂層測(cè)厚儀

X射線測(cè)厚儀

白光干涉測(cè)厚儀

電解式測(cè)厚儀

主要類(lèi)型

激光測(cè)厚儀：是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測(cè)量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來(lái)測(cè)量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測(cè)量?jī)x器。它可直接輸出數(shù)字信號(hào)與工業(yè)計(jì)算機(jī)相連接，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備。

X射線測(cè)厚儀：利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測(cè)定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，達(dá)到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工。

紙張測(cè)厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測(cè)量。

薄膜測(cè)厚儀：用于測(cè)定薄膜、薄片等材料的厚度，測(cè)量范圍寬、測(cè)量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。

超聲波測(cè)厚儀：超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過(guò)精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。

適合測(cè)量金屬（如鋼、鑄鐵、鋁、銅等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導(dǎo)體的厚度。

X射線測(cè)厚儀：適用生產(chǎn)鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產(chǎn)品的企業(yè)，可以與軋機(jī)配套，應(yīng)用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。其中，x射線測(cè)厚儀還可以用于冷軋、箔軋和部分熱軋的軋機(jī)生產(chǎn)過(guò)程中對(duì)板材厚度進(jìn)行自動(dòng)控制。

涂層測(cè)厚儀F型探頭可直接測(cè)量導(dǎo)磁材料（如鋼鐵、鎳）表面上的非導(dǎo)磁覆蓋層厚度（如：油漆、塑料、搪瓷、銅、鋁、鋅、鉻、等）。可應(yīng)用于電鍍層、油漆層、搪瓷層、鋁瓦、銅瓦、巴氏合金瓦、磷化層、紙張的厚度測(cè)量，也可用于船體油漆及水下結(jié)構(gòu)件的附著物的厚度測(cè)量。

涂層測(cè)厚儀：

涂層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂層厚度。

涂層測(cè)厚儀具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；

具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（APPL）；

設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、值（MAX）、最小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）

涂鍍層測(cè)厚儀根據(jù)測(cè)量原理一般有以下五種類(lèi)型：

1.磁性測(cè)厚法：適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為：鋼，鐵，銀，鎳。此種方法測(cè)量精度高。

2.渦流測(cè)厚法：適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。此種較磁性測(cè)厚法精度低。

3.超聲波測(cè)厚法：適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或者是以上兩種方法都無(wú)法測(cè)量的場(chǎng)合。但一般價(jià)格昂貴，測(cè)量精度也不高。

4.電解測(cè)厚法：此方法有別于以上三種，不屬于無(wú)損檢測(cè)，需要破壞涂鍍層，一般精度也不高。測(cè)量起來(lái)比較其他幾種麻煩。

5.放射測(cè)厚法：此處儀器價(jià)格非常昂貴（一般在10萬(wàn)RMB以上），適用于一些特殊場(chǎng)合。

國(guó)內(nèi)目前使用普遍的是第1/2兩種方法。

激光測(cè)厚儀：

板材（鋼坯）激光厚度檢測(cè)系統(tǒng)具有、成本低、便于維護(hù)等特點(diǎn)，激光測(cè)厚儀是通過(guò)采用自主激光檢測(cè)技術(shù)及可靠的防護(hù)措施研制而成的，滿(mǎn)足熱軋板坯厚度檢測(cè)的需求。

激光測(cè)厚儀是基于三角測(cè)距原理，使用集成式的三角測(cè)距傳感。

激光測(cè)厚儀原理

器測(cè)量出從安裝支架到物體表面的距離，進(jìn)而根據(jù)支架的固定距離計(jì)算得出物體的厚度。

激光束在被測(cè)物體表面上形成一個(gè)很小的光斑，成像物鏡將該光斑成像到光敏接收器的光敏面上，產(chǎn)生探測(cè)其敏感面上光斑位置的電信號(hào)。當(dāng)被測(cè)物體移動(dòng)時(shí)，其表面上光斑相對(duì)成像物鏡的位置發(fā)生改變，相應(yīng)地其像點(diǎn)在光敏器件上的位置也要發(fā)生變化，進(jìn)而可計(jì)算出被測(cè)物體的實(shí)際移動(dòng)距離。

紙張薄膜測(cè)厚儀：

紙張薄膜測(cè)厚儀采用機(jī)械接觸

式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專(zhuān)業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。

非接觸式紙張測(cè)厚儀：

英國(guó)真尚有公司研發(fā)的測(cè)厚儀使用了新的非接觸式測(cè)量方法，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)紙張的非接觸式測(cè)量，避免對(duì)紙張?jiān)斐尚巫円鹫`差。測(cè)量精度達(dá)到微米級(jí)，是目前精度的測(cè)厚儀，并且可以在線測(cè)量。實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)自動(dòng)化的閉環(huán)控制。

非接觸式測(cè)厚儀的測(cè)量原理：使用兩個(gè)紙張厚度傳感器安裝在被測(cè)物（紙張）上下方，將傳感器固定在穩(wěn)定的支架上，確保兩個(gè)傳感器的激光能對(duì)在同一點(diǎn)上。隨著被測(cè)物的移動(dòng)傳感器就開(kāi)始對(duì)其表面進(jìn)行采樣，分別測(cè)量出目標(biāo)上下表面分別與上下成對(duì)的激光位移傳感器距離，測(cè)量值通過(guò)串口傳輸?shù)接?jì)算機(jī)，再通過(guò)我們?cè)谟?jì)算機(jī)上的測(cè)厚軟件進(jìn)行處理，得到目標(biāo)被測(cè)物體的厚度值。非接觸式紙張測(cè)厚儀同樣可以測(cè)量其他薄膜類(lèi)、片材類(lèi)物體的厚度。

磁性測(cè)厚儀：

磁性測(cè)厚儀一體式儀器結(jié)構(gòu)，可以單手操作。它采用電磁感應(yīng)原理，適用于測(cè)量各種磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，可以測(cè)量鋼鐵上的各種電鍍（鍍鎳除外）、涂層、琺瑯、塑料等覆蓋層厚度，還可用于測(cè)量各種金屬箔（如銅箔、鋁箔、金箔等）和非金屬薄膜（如紙張、塑料等）的厚度。本儀器可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)及質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。

渦流測(cè)厚儀：

渦流測(cè)厚儀是一種小型儀器，采用渦電流測(cè)量原理，可以方便無(wú)損地測(cè)量有色金屬基體上的油漆、塑料、橡膠等涂層，或者是鋁基體上的陽(yáng)極氧化膜厚度等。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車(chē)、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。

渦流測(cè)量原理是高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣，渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。采用電渦流原理的測(cè)厚儀，原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量，如航天航空器表面、車(chē)輛、家電、鋁合金門(mén)窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過(guò)校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體，但這類(lèi)任務(wù)還是采用磁性原理測(cè)量較為合適。

測(cè)量注意事項(xiàng)：

1.為了減少測(cè)量體材質(zhì)對(duì)測(cè)量精度的影響。建議采用不帶涂層的測(cè)量體或與測(cè)量體材質(zhì)相同的標(biāo)準(zhǔn)試塊作為校準(zhǔn)用基準(zhǔn)塊。

2.測(cè)量完畢，輕按一下電源鍵，關(guān)斷整機(jī)電源，并在測(cè)量頭的觸頭及基準(zhǔn)塊上涂少許油脂以防生銹。

3.本儀器有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能如不進(jìn)行任何操作大約一分鐘后就自動(dòng)關(guān)機(jī)。

4.儀器應(yīng)防止劇烈震動(dòng)、撞擊。使用后應(yīng)擦凈儀器表面油污放入儀器箱內(nèi)妥善保存。

5.嚴(yán)禁敲擊或碰撞探頭以免影響探頭性能；嚴(yán)禁捏住探頭尾部測(cè)量。

單用測(cè)厚儀：采用磁性測(cè)厚方法，可無(wú)損傷地檢測(cè)磁性金屬基鐵（如：鐵、鋼、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如：鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）。單用測(cè)厚儀廣泛地應(yīng)用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專(zhuān)業(yè)的儀器。符合GB/T 4956-1985 磁性金屬基體上非磁性覆層厚度的測(cè)量。便攜設(shè)計(jì)，手掌大小，采用高速的DSP芯片，具有快速的測(cè)量能力；天津市精科材料試驗(yàn)機(jī)廠是專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)油漆、涂料、油墨設(shè)備材料試驗(yàn)機(jī)及涂料行業(yè)試驗(yàn)室專(zhuān)用設(shè)備的型企業(yè)。人性化設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)單操作。在雙用探頭時(shí)自動(dòng)識(shí)別鐵基和非鐵基材質(zhì)，無(wú)需手動(dòng)轉(zhuǎn)換，兩種校準(zhǔn)方式，零點(diǎn)校準(zhǔn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)，寬角度LCD液晶顯示，公制和英制單位轉(zhuǎn)換，具有電源欠電壓提示，操作過(guò)程有蜂鳴聲提示，具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能。

如何選購(gòu)

1、塑料上的銅、鉻層：建議用庫(kù)侖法測(cè)厚儀（會(huì)破壞鍍層）或X射線測(cè)厚儀（無(wú)損測(cè)量），如銅層在10m~200m可考慮電渦流法測(cè)厚儀（無(wú)損測(cè)量）。

2、金屬件上鍍鋅層：如在鋼鐵基體上應(yīng)使用經(jīng)濟(jì)的磁感應(yīng)法測(cè)厚儀（無(wú)損測(cè)量）。其它金屬基體用庫(kù)侖法測(cè)厚儀（會(huì)破壞鍍層）或X射線測(cè)厚儀（無(wú)損測(cè)量）。

3、鐵基體上的電泳漆，油漆應(yīng)使用經(jīng)濟(jì)的磁感應(yīng)法測(cè)厚儀（無(wú)損測(cè)量）。其它金屬基體上的電泳漆，油漆應(yīng)使用經(jīng)濟(jì)的電渦流法測(cè)厚儀（無(wú)損測(cè)量）。

4、干膜是指己固化了的油漆涂層。

5、鍍鉻層參考2項(xiàng)、1項(xiàng)。

6、車(chē)內(nèi)外飾件噴漆只有用切鍥法（PIG，會(huì)破壞涂層），超聲波法（無(wú)損測(cè)量）可測(cè)10微米以上涂層，但有時(shí)測(cè)不到。

7、價(jià)格：磁感應(yīng)法、電渦流法0.6~3萬(wàn)；庫(kù)侖法0.8~6萬(wàn)；超聲波法5.5~6萬(wàn)；X射線測(cè)厚儀25~40萬(wàn)。

注意事項(xiàng)

測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有：磁性測(cè)厚法，放射測(cè)厚法，電解測(cè)厚法，渦流測(cè)厚法，超聲波測(cè)厚法。

測(cè)量注意事項(xiàng)：

⒈在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。

⒉測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。

⒊測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。

⒋測(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。

⒌測(cè)量前要注意周?chē)渌碾娖髟O(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。

⒍測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

⒎在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。

⒏在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)

HG/T 3240-1987 搪瓷測(cè)厚儀技術(shù)條件

HG/T 3240-2007 電腦膜層測(cè)厚儀

HG/T 3241-1989 內(nèi)孔涂層測(cè)厚儀技術(shù)條件

HG/T 3241-2007 電腦內(nèi)孔膜層測(cè)厚儀

JJF 1126-2004 超聲波測(cè)厚儀校準(zhǔn)規(guī)范

JJG （輕工） 87-1992 便攜式地毯測(cè)厚儀檢定規(guī)程

JJG 403-1986 超聲波測(cè)厚儀

JJG 480-1987 X射線測(cè)厚儀檢定規(guī)程

JJG 818-1993 電渦流式測(cè)厚儀（試行）

JJG 889-1995 磁阻法測(cè)厚儀

NJ 372-1985 輪輞用測(cè)厚儀

ZB N 13003-1987 搪瓷測(cè)厚儀技術(shù)條件

ZB N 77001-1989超聲測(cè)厚儀通用技術(shù)條件

不同種類(lèi)的測(cè)厚儀的應(yīng)用

1、激光測(cè)厚儀是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測(cè)量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來(lái)測(cè)量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測(cè)量?jī)x器。它可直接輸出數(shù)字信號(hào)與工業(yè)計(jì)算機(jī)相連接，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備。

2、X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，滄州歐譜從而測(cè)定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，達(dá)到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工。

3、紙張測(cè)厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測(cè)量。

4、薄膜測(cè)厚儀：用于測(cè)定薄膜、薄片等材料的厚度，測(cè)量范圍寬、測(cè)量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。

5、涂層測(cè)厚儀：用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.

6、超聲波測(cè)厚儀：超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的，滄州歐譜當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過(guò)精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。