加熱元件產熱影響：試驗箱升溫依靠加熱元件，如電加熱絲或加熱管。電流通過時，根據焦耳定律會產生熱量，這些熱量是箱內溫度升高的直接來源。加熱元件將電能轉化為熱能，周圍空氣吸收熱量后溫度升高，進而使整個箱內環境溫度上升，以達到設定的高溫試驗條件。

制冷系統產熱影響：制冷系統運行時也會產生熱量。壓縮機將制冷劑氣體壓縮成高溫高壓狀態，此過程中制冷劑溫度和壓力大幅上升，會向周圍環境散發一定熱量。雖然冷凝器會通過風冷或水冷方式將制冷劑熱量散發到箱外，但仍可能有部分熱量影響箱內環境，若散熱不佳，會使箱內溫度升高或增加制冷系統負擔，影響溫度控制精度。

樣品發熱影響：若試驗樣品本身發熱，也會對箱內溫度產生影響。發熱樣品會成為額外熱源，干擾箱內溫度均勻性，使局部溫度升高，增加試驗箱制冷和加熱負擔，導致溫度波動增大。例如測試 LED 照明產品時，其發熱會影響箱內溫度分布。

低氣壓環境下的特殊影響：在低氣壓條件下，空氣密度降低，對流傳熱效率下降，而熱輻射影響增大。此時，設備產生的熱量難以像在常壓下那樣通過對流傳熱迅速均勻分布，可能導致箱內溫度分布更不均勻，且熱量散失也會變慢，進而對箱內環境溫度的穩定性和均勻性產生更大影響。

風扇運行產熱影響：試驗箱內的循環風扇在運行時，電機等部件會產生一定熱量。雖然風扇主要作用是促使箱內空氣循環，讓溫度均勻分布，但電機產生的熱量也會在一定程度上影響箱內溫度，尤其是在長時間運行或風扇功率較大的情況下。